Sub-30 nm FIB Prep & Limited-Angle STEM Tomography

CEA; Grenoble; On-site; EUR 10,000 - 13,000; Part time

Benefits offered by this job

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Job summary

CEA, Grenoble, propose un stage Sub-30 nm de préparation d’échantillons et tomographie STEM limitée en angle pour réduire les effets de projection dans les dispositifs à l’échelle nanométrique. Le stage améliore à la fois la préparation d’échantillons et la caractérisation STEM, avec des lamelles <30 nm réalisées par FIB puis polissage ionique léger.

La tomographie électronique limitée reconstruit la tranche centrale, et les résultats seront comparés à une reconstruction 3D complète utilisant

Qualifications

• Master 2 en sciences des matériaux ou physique, ou équivalent.
• Compétences en programmation.

Responsibilities

• Préparer des lamelles FIB sub-30 nm.
• Utiliser la tomographie STEM à angle limité pour réduire les effets de projection.
• Comparer les résultats avec une reconstruction 3D complète utilisant des approches deep-learning.

Skills

Programmation

Education

Master 2 en sciences des matériaux ou physique, ou équivalent

Tools

FIB-SEM

STEM

Deep learning

Job description

CEA, Grenoble, propose un stage Sub-30 nm de préparation d’échantillons et tomographie STEM limitée en angle pour réduire les effets de projection dans les dispositifs à l’échelle nanométrique. Le stage améliore à la fois la préparation d’échantillons et la caractérisation STEM, avec des lamelles <30 nm réalisées par FIB puis polissage ionique léger.

La tomographie électronique limitée reconstruit la tranche centrale, et les résultats seront comparés à une reconstruction 3D complète utilisant