Stage: Caractérisation d’Optique LWIR avec Métasurfaces

CEA

Grenoble

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EUR 10 000 - 13 000

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Résumé du poste

Le LI2T du CEA-LETI à Grenoble recherche un stagiaire pour caractériser des systèmes optiques intégrant des métasurfaces dans la plage LWIR (8–12 μm). Vous étudierez un système associant lentille et métasurfaces et mesurerez le front d’onde à plusieurs longueurs d’onde, en vous appuyant sur des outils de simulation et de mesure.

Le stage porte sur la revue bibliographique, la compréhension des outils RCWA, FDTD (Lumerical) et Zemax, et l’évaluation de la profondeur de gravure des plots.

Qualifications

  • Étudiant en 3e année d’école d’ingénieur ou en M2 en optique/photonique.
  • Expérience ou première expérience dans le domaine demandée ou bien débutant accepté.
  • Bonnes compétences en simulation électromagnétique et optique.

Responsabilités

  • Réaliser une revue bibliographique concernant la conception de Métasurface pour la correction du front d’onde dans la gamme thermique
  • Comprendre les outils de simulations à disposition du laboratoire: RCWA, FDTD (Lumerical®), Zemax®
  • Comprendre la filière de développement des métasurfaces, en particulier les étapes de lithographie et de gravure des petits plots définissant la méta surfaces et les sources d’erreur associées
  • Proposer des voies d’amélioration du système optique de façon à, par exemple, améliorer le chromatisme

Connaissances

RCWA
FDTD
Optique géométrique
Optique Fourier
Physique des semi-conducteurs
Autonomie

Formation

Bac+5 - Diplôme École d'ingénieurs

Outils

Zemax®
Lumerical RCWA
Lumerical FDTD

Description du poste

Le LI2T du CEA-LETI à Grenoble recherche un stagiaire pour caractériser des systèmes optiques intégrant des métasurfaces dans la plage LWIR (8–12 μm). Vous étudierez un système associant lentille et métasurfaces et mesurerez le front d’onde à plusieurs longueurs d’onde, en vous appuyant sur des outils de simulation et de mesure.

Le stage porte sur la revue bibliographique, la compréhension des outils RCWA, FDTD (Lumerical) et Zemax, et l’évaluation de la profondeur de gravure des plots.

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