Responsable du service d'analyse de surface SIMS/XPS/HaXPES H/F

CNRS; Dijon; Sur place; EUR 45 000 - 60 000; Plein temps

Résumé du poste

Un institut de recherche avancée recherche un Responsable du service d'analyse de surface à Dijon. Le candidat gérera des techniques XPS/SIMS/HAXPES tout en contribuant aux projets de recherche. Ce rôle exige une expertise solide en caractérisation des matériaux, ainsi qu’une capacité à travailler en équipe et à communiquer en anglais. Il implique également la supervision d'équipements de pointe et une implication dans la formation des utilisateurs.

Qualifications

• Expérience en caractérisation des matériaux solides (XPS/HaXPES).
• Connaissances en microscopie optique et profilométrie.
• Maîtrise des outils d'analyse et de calibration.

Responsabilités

• Animer le service d'analyse de surface XPS/SIMS/HAXPES.
• Concevoir et développer des méthodes d'analyse.
• Superviser les expériences et interpréter les résultats.
• Gérer les équipements et planifier leur utilisation.

Connaissances

Caractérisation des matériaux

Analyse XPS/HaXPES

Préparation des matériaux

Traitement des données

Interaction en équipe

Anglais B2 à C1

Description du poste

Responsable du service d'analyse de surface SIMS/XPS/HaXPES H/F

Date Limite Candidature : jeudi 15 janvier 2026 17:00:00 heure de Paris

Informations générales

Réservé aux agents CNRS (fonctionnaires et CDI) et aux fonctionnaires et CDI de droit public
Intitulé de l'offre : Responsable du service d'analyse de surface SIMS/XPS/HaXPES H/F
Référence : UMR6303-MOBINT-P51003
Lieu de travail : DIJON
Institut : INP - Institut de physique
Date de publication : mercredi 3 décembre 2025
Session : Campagne Hiver 2026
Groupe de Fonction : IRG3
BAP : B - Sciences chimiques et Sciences des matériaux
Emploi type : Ingenieure ou ingenieur de recherche en science des materiaux / caracterisation

Missions

Au sein de la plateforme ARCEN-CARNOT du laboratoire ICB, l'ingénieur-e de recherche sera chargé-e d'animer le service d'analyse de surfaces (XPS/SIMS/HAXPES) mutualisé pour l'ensemble des activités liées au fonctionnement de ce service, et en particulier pour la conception et le développement des techniques. La personne devra s'impliquer dans des projets de recherche nationaux et internationaux et gérer des équipements de caractérisation lourds.

Activités

• Mise en œuvre des techniques d'analyse de surface XPS/HaXPES/TOF-SIMS dans des configurations classiques mais également en mode cryogénique ou/et sous champ électrique.
• Elaborer et adapter des méthodes et procédures d'acquisition de données pour des matériaux organiques et inorganiques.
• Effectuer et/ou superviser la conduite des expériences, traiter les données et interpréter les résultats (ajuster le protocole si nécessaire).
• Initier et/ou piloter tout ou partie d'un projet d'investissement lourd à l'échelle du service ou d'un projet de recherche.
• Adapter les instruments aux nouveaux besoins de recherché.
• Effectuer les opérations de calibration des appareils et de maintenance préventive de premier niveau.
• Coordonner les moyens humains, planifier l'utilisation des équipements, prévoir et gérer un budget de fonctionnement.
• Participer à la valorisation des outils et des savoirs (rapports techniques, publications, communications).
• Appliquer et faire respecter les règles d'hygiène et de sécurité.
• Assurer ou superviser la maintenance et le suivi régulier des performances des équipements.
• Concevoir et faire développer des accessoires nécessaires aux travaux de recherche.
• Former et assister les utilisateurs pour la préparation des échantillons, l'acquisition et le traitement des données.

Compétences

Savoirs :

• Compétences dans le domaine de la caractérisation des matériaux solides (XPS/HaXPES/TOF-SIMS) et de l'instrumentation en général.
• Connaissances dans le domaine de la préparation et du contrôle des matériaux (polissage, microscopie optique, profilométrie).
• Connaissances dans le domaine du vide et de l'ultra-vide.
• Connaissances dans le domaine du traitement des données (analyse d'images, analyses en composantes principales...).
• Connaissances dans le domaine de la qualité (calibration, suivi d'équipement, validation des mesures).
• Environnement et réseaux professionnels.

Savoir-faire :

• Travailler en interaction avec une équipe ou des chercheurs.
• Appliquer les règles d'hygiène et de sécurité.
• Rédiger et/ou participer à l'établissement d'un projet de recherche.
• Elaborer, définir et déployer un plan d'action d'investissement.

Savoir-être :

• Ecouter et s'adapter à tout public, aux relations fonctionnelles et hiérarchiques.
• Savoir rendre compte, sens de l'initiative.
• Travailler en interaction avec des partenaires très divers.
• Communiquer, convaincre.
• Respect de la confidentialité.
• Techniques de présentation écrite et orale.
• Langue anglaise : B2 à C1 (cadre européen commun de référence pour les langues).

Contexte de travail

La plateforme ARCEN-Carnot centralise, au sein de ses différents centres, un parc instrumental dédié à la nano-fabrication et à la nano-caractérisation à la pointe du développement technologique, et un soutien à la recherche / développement dans les domaines mécanique, électronique et informatique. La plateforme offre également une expertise technologique et scientifique unique basée sur ses ressources humaines propres (24 agents issus de différentes branches d'activités professionnelles). La plateforme propose, par exemple, un savoir-faire reconnu dans la réalisation de nano-objets fonctionnels (Centre de NanoFabrication, CNF) et dans la caractérisation physico-chimique des matériaux multiéchelles (Centre de MicroNano Caractérisation, CMNC). C'est une structure privilégiée pour la formation des chercheurs et personnels techniques des partenaires et pour l'enseignement.

Adossé notamment à la fédération de recherche « Spectroscopies de Photoémission (FR2050 CNRS), au Laboratoire de Recherche correspondant LIMPE (LRC CEA-DAM-VA-11-02) et au GDR MSI (Imagerie par Spectrométrie de Masse), le service d'analyse de surface apporte un soutien technique et scientifique à la communauté académique et aux industriels, en mettant à leur disposition des équipements performants, voire unique (couplage XPS/four thermique, par exemple).
Les techniques d'analyse disponibles (XPS-Auger PHI 5000 VersaProbe couplé à un four, HaXPES PHI Quantes et SIMS PHI nano TOF II) permettent de répondre à l'ensemble des besoins dans le domaine de l'analyse de surface (métallurgie, corrosion, adsorbants, films à propriétés optiques ou électroniques par exemple) et de participer à des projets de Recherche régionaux, nationaux et internationaux.